يعتبر الآيسي (IC) أو المعالج المتكامل جزءًا مهمًا من اللوحة الأم والأجهزة الإلكترونية الأخرى، ولكن ماذا يحدث إذا خرب الآيسي؟ هناك بعض العلامات التي يمكن ملاحظتها على الفور للاشتباه بأن هذا هو المشكلة. في هذا المقال، سنتحدث عن كيفية التحقق من عطل الآيسي.
الخطوة 1: التحقق من عدم وجود تلف في المكونات الأخرى
في بعض الأحيان، يمكن أن يؤدي تلف أي مكون آخر في الدائرة الإلكترونية إلى ظهور أعراض تشابه تلك التي ترجح احتمال خلل الآيسي. لذلك، قبل الشروع في عملية فحص الآيسي، ينبغي التأكد بدقة من عدم وجود تلف في المكونات الأخرى.
الخطوة 2: الفحص البصري
في حالة الشك بأن الآيسي هو الجزء المسؤول عن المشكلة المرجح وجودها، يمكن إجراء فحص بصري للمكون. كل ما يلزم فعله هو فحص الجزء العلوي من الآيسي والبحث عن أي علامات مرئية للتلف أو التكسر أو الحروق.
الخطوة 3: اختبار الآيسي باستخدام الجهد المنخفض
يمكن استخدام الجهد المنخفض لاختبار الآيسي بشكل أكثر دقة. على سبيل المثال، يمكن توصيل جزء من الدائرة بجهاز اختبار الدائرة الكهربائية المتخصص، ويمكن استخدام جهد منخفض جدًا لقياس تفاعل الآيسي مع هذا الجزء.
جدول الاختبار الخاص بالآيسي:
| علامة الاختبار | وصف |
|---|---|
| القراءة المنخفضة | يجب أن تكون القراءة المستمدة من الاختبار منخفضة جدًا في حالة عدم تلف الجزء |
| القراءة العالية | في حالة تلف الجزء، يمكن تحقيق قراءة عالية |
| قياس الاستجابة | يمكن استخدام جهد منخفض جدًا لقياس استجابة الآيسي |
إذا كان هناك فرق واضح في النتائج المقاسة في جدول الاختبار للاختبار النشط والاختبار السليم، فإن ذلك يشير إلى تلف الآيسي.
وبهذا يكون قد تم توضيح خطوات عملية للاشتباه في حدوث تلف في الآيسي وكيف يمكن فحصه. ينبغي الانتباه إلى أنه في بعض الحالات الأخرى، يحتاج مهندسو الإلكترونيات إلى إجراء اختبارات أخرى من شأنها تحديد أي نوع من أنواع الأعطال التي يمكن أن يحدث بها الجهاز، وذلك على سبيل المثال التفريغ الكهربائي، القياس الفوري، وما إلى ذلك.